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photonic-lattice

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您的位置：首頁 - 產(chǎn)品中心 - - photonic-lattice - KAMAKIRI MEM-LS日本photonic-lattice在線測量離線映射儀

日本photonic-lattice在線測量離線映射儀

日本photonic-lattice在線測量離線映射儀KAMAKIRI MEM-LS
KAMAKIRI MEM-LS 可以用一臺相機(jī)在線測量和檢查所需的線位置和薄膜寬度方向部分，就像抽樣檢查一樣。
結(jié)果，可以縮短抽檢時間，迅速停止不良品的生產(chǎn)，提高成品率。
可根據(jù)客戶線路情況定制并提供安裝治具。
此外，如果需要固定設(shè)備或測量全寬，可以升級到 KAMAKIRI STS-LS。

產(chǎn)品型號：KAMAKIRI MEM-LS
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2023-04-07
訪問量：1370

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產(chǎn)品詳情

日本photonic-lattice在線測量離線映射儀KAMAKIRI MEM-LS

一臺機(jī)器多條生產(chǎn)線的啟動調(diào)整輔助
在感興趣的寬度位置進(jìn)行局部檢查

現(xiàn)場監(jiān)控

顯示相位差和主軸方向分布
分布隨時更新
顯示寬度線輪廓
OK/NG判斷

分析

保存測量結(jié)果后。可以進(jìn)行各種分析
[分析項(xiàng)目]

統(tǒng)計數(shù)據(jù)（最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差）
寬度方向線輪廓
輸送方向線剖面圖

規(guī)格
類型名稱	KAMAKIRI MEM-LS
介紹的主要目的	部分檢查原型線評估
系統(tǒng)特點(diǎn)	1.配置簡單 2.實(shí)時監(jiān)控 3.可修改為STS
測量項(xiàng)目	相位差主軸方向
相位差測量范圍	0~260nm
相位差重復(fù)性	<±1納米
主軸方位測量范圍	0~180°
主軸重復(fù)積	< 1°
標(biāo)準(zhǔn)測量中心波長	543nm *如需更改中心波長，請與我們聯(lián)系。
測量點(diǎn)數(shù)	424
線掃描時的最大測量	大約 600 毫米 *每個相機(jī)的測量寬度。
對應(yīng)輸送速度	~30m/min *如果您想支持更高的傳輸速度，請聯(lián)系我們。
軟件 [日語/英語]	KAMAKIRI 內(nèi)聯(lián)基礎(chǔ)軟件
定制跟蹤記錄	提供單相機(jī) 2m 薄膜寬度橫動系統(tǒng) 毫米級雙折射不均勻檢測模式

可根據(jù)線路安裝的移動型可根據(jù)線路安裝的移動型

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